主營產(chǎn)品：
示波器、變頻電源、直流電源、電子負(fù)載、直讀光譜儀、金相顯微鏡、手持合金分析儀、拉力試驗(yàn)機(jī)、硬度計(jì)、金相制樣設(shè)備、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱，高溫箱，鹽霧試驗(yàn)箱、防水防塵試驗(yàn)箱、溫度沖擊試驗(yàn)箱、三座標(biāo)測(cè)量機(jī)、影像測(cè)量儀、投影儀、粗糙度測(cè)試儀、測(cè)高儀、氣動(dòng)量儀、體視顯微鏡、數(shù)碼顯微鏡、測(cè)量顯微鏡、紅外熱像儀、紅外測(cè)溫儀、溫度記錄儀、爐溫測(cè)試儀、在線溫度測(cè)試儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、光澤度測(cè)試儀、色差儀、標(biāo)準(zhǔn)光源燈箱、電解測(cè)厚儀、針孔檢測(cè)儀、里氏硬度計(jì)、超聲硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、顯微維氏硬度計(jì)、布氏硬度計(jì)、熔體流動(dòng)速率儀，沖擊試驗(yàn)機(jī)、分析天平、電子天平，電子稱，密度天平
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
微量分析天平XS3DU是1 μg 可讀性，1 μg 重復(fù)性，*大秤量為 800 mg
小于 0.8ug 的重復(fù)性對(duì)于獲得更優(yōu)稱量可靠性來說至關(guān)重要的。 XS 微量天平可減少不必要的重復(fù)測(cè)試以及對(duì)昂貴樣品的浪費(fèi)，同時(shí)可保證在稱量*小的微量樣品時(shí)也具有準(zhǔn)確的稱量結(jié)果。
微量分析天平XS3DU優(yōu)越一步
在項(xiàng)目研究期間，您經(jīng)常需要處理數(shù)量十分有限的昂貴樣品。 超量使用以及任何浪費(fèi)都會(huì)成為成功項(xiàng)目的絆腳石。 XS3DU 微量天平可按照您的需求縮短稱量過程、有效的節(jié)約成本，從而使您更加注重稱量結(jié)果。 XS3DU 微量天平所具有的獨(dú)特稱量準(zhǔn)確度為您的日常實(shí)驗(yàn)室工作打下了**基礎(chǔ)。
詳情介紹：
梅特勒-托利多微量分析天平XS3DU特性：
更為可靠的稱量性能
中文界面實(shí)現(xiàn)直觀、便捷的操作
通訊接口與數(shù)據(jù)傳輸更加靈活
梅特勒-托利多 XS3DU 微量天平可確保您的研究結(jié)果更高效與可靠。
梅特勒-托利多微量分析天平XS3DU規(guī)格參數(shù)：
